晶體電光效應(yīng)實(shí)驗(yàn)儀是04綜合光學(xué)實(shí)驗(yàn)儀的組成部分；也可以單獨(dú)做實(shí)驗(yàn)。
實(shí)驗(yàn)內(nèi)容：
掌握電光調(diào)制的原理及方法。
觀察晶體的單晶干涉現(xiàn)象，以及由電光效應(yīng)引起晶體折射率變化而產(chǎn)生的雙晶干涉現(xiàn)象。
極值法測量晶體半波電壓，計(jì)算電光系數(shù)。
加載調(diào)制電壓觀察倍頻現(xiàn)象并測量晶體半波電壓。
模擬激光通信（需增配選購件）
特點(diǎn)：
連續(xù)可調(diào)的0~800V高壓直流電源及0~100V交流調(diào)制信號(hào)，確保觀察到多次倍頻現(xiàn)象。
三數(shù)字表分別顯示直流高壓、調(diào)制信號(hào)電壓和接收到的光電信號(hào)電壓。
電光晶體：LiNbO3
光源：半導(dǎo)體激光器，功率可調(diào)
可明顯觀察到晶體由單軸晶體變化到雙軸晶體的過程，以及由加載電壓變化引起的雙晶干渉的變化趨勢。
模擬通信實(shí)驗(yàn)可直觀的體現(xiàn)電光調(diào)制的原理。
JCTIM熱學(xué)綜合實(shí)驗(yàn)儀
熱學(xué)綜合實(shí)驗(yàn)儀由控制箱和若干個(gè)功能組件構(gòu)成。
控制箱內(nèi)集成了溫度、壓強(qiáng)、電壓、電流測量顯示單元；高精度長時(shí)間計(jì)時(shí)單元；PID控制/手動(dòng)控制單元；多組直流電源單元；四路傳感器接口單元等部件，可滿足常用熱學(xué)實(shí)驗(yàn)的測量與控制需求。
功能組件針對某個(gè)或數(shù)個(gè)實(shí)驗(yàn)設(shè)計(jì)成獨(dú)立組件。根據(jù)教學(xué)安排，可以很方便地變更實(shí)驗(yàn)內(nèi)容或添加功能組件。
實(shí)驗(yàn)內(nèi)容：
非金屬材料的導(dǎo)熱系數(shù)測量實(shí)驗(yàn)；
金屬材料的導(dǎo)熱系數(shù)測量實(shí)驗(yàn)；
金屬材料的比熱容測量實(shí)驗(yàn)；
空氣導(dǎo)熱系數(shù)測量實(shí)驗(yàn)；
金屬材料膨脹系數(shù)測量實(shí)驗(yàn)。
